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帶你了解一下觀察聲測管產品的表面設計

添加時間:2021/04/06

二管光器發出的光束經過光學系統聚焦在微懸臂背面,并從微懸臂背面反射到由光電二管構成的光斑位置。在樣品掃描時,由于樣品表面的原子與微懸臂探針的原子間的相互作用力,微懸臂將隨樣品表面形貌而彎曲起伏,反射光束也將隨偏移,因此,通過光電二管檢測光斑位置的變,就能獲得被測樣品表面形貌的信息。聲測管廠家在系統檢測成像全過程中,探針和被測樣品間的距離始終保持在(10m)量級,距離太不能獲得樣品表面的信息,距離太小會損傷探針和被測樣品。反饋回路的作用就是在工作過程中,由探針得到探針與樣品間相互作用的強度,改變加在壓電換能器垂直方向的電壓,使樣品伸縮,調節探針和被測樣品間的距離,反過來控制探針與樣品間相互作用的強度,實現反饋控制。因此,反饋控制是系統的核心工作機制?,F在的AFM均采用數字反饋控制回路,測試人員在控制軟件的參數工具欄通過設置參考電流、積分增益和比例增益等參數來對反饋回路進行控制。
  AFM的樣品制備簡單,般要求如下:(1)塊狀固體樣品:觀察聲測管廠家微區表面平整,上下兩表面盡量平行,起伏程度應小于2mm,樣品尺寸應小于4cm×4cm×0.5cm(2)粉末樣品:樣品應固定在某基體上,使其在掃描時不會移動,固定基體不應有黏附。固定樣品的觀察微區表面平整,起伏程度應小于2ym(3)樣品在不同環境下無腐蝕、無揮發、無黏附(4)對于薄膜材料,如金屬、金屬氧物薄膜、高聚物薄膜、無機復合薄膜等般可以直接用于AFM研究4.2操作規范在進行原子力顯微鏡測試時,需要注意以下幾個問題:(1)整個實驗成功的關鍵在于針尖的制備和安裝,除了剪切個合乎要求的針尖外,運用針尖還應注意以下幾點:①避免針尖頭污染。實驗前針尖應進行要的清洗和處理,但在測量過程中,空氣中的灰塵和水汽很可能吸附在針尖上,因而針尖應取下再10章原子力顯微鏡脈沖電壓的方法可以修飾針尖,使針尖污物脫離,同時使針尖更尖銳,在進行原子級測量時,如果針尖并非個原子,就會出現多針效應。
  這時可以調節偏壓值和電流值,讓針尖得到修飾,可能在多次往返掃描就可得到單原子的針尖(2)在顯微鏡下檢查樣品表面是否干凈、平整,如果有污染或不平,重新制樣。因為原子力顯微鏡的針尖能測試的高度小于6m,而水平范圍只有100多微米。事實證明,接近探針測試限測得的圖像效果很差,且針尖很容易破壞和磨損(3)調整光的位置,因為原子力采集的是由于針尖受力而導致的懸臂變形況這種形變是通過光的位置變來反映的,所以光打在針尖上,否則會影響測試結果,甚至無法進行測試(4)如果探針用久了或樣品表面比較黏的話,應加掃描范圍或烘烤樣品。(5)聲測管廠家對不同的樣品應選擇不同的偏壓。(6)測試時確保環境安靜。如果外面太吵,可以通過降低圖像分辨率或掃描額率來Al的影響。粗糙度的定義:樣品表面上具有的較小間距和微小峰谷的不平度,其兩波峰或兩波谷間

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